晶振外殼是影響晶振性能的主要因素之一
來源：http://taiheth.com 作者：taiheth 2012年05月12
通常我們知道影響晶振性能因素，工作環境是主要的，其次還有一個因素也可以說是很不起眼的，那就是晶振外殼，晶振外殼如何才能決定晶振的性能優劣呢？
晶體振蕩器被廣泛用于各種模擬和數字電路中作為基準時鐘源，其質量的好壞直接影響到電路工作狀況，而晶振外殼(也稱晶振帽)沖壓品質是影響晶振性能的主要因素之一。。晶振外殼采用沖床連續沖壓成型，經大量觀察和分析發現，主要缺陷有內底面與頂面的凹坑、內底面與頂面的劃痕，側面裂口和側面撓曲。之前的研究者針對前3種缺陷，應用計算機視覺檢測技術開發了晶振外殼缺陷檢測系統。側面撓曲嚴重同樣可以影響晶振的質量，是指外殼主要側面不平行，如圖所示。理論上這種側面的撓曲缺陷使得本來與光源平行的內側面發生小角度傾斜，其在圖像上的突出表現是晶振外殼凸緣內側邊緣變粗和不平行。
圖 晶振外殼內側面不平行
晶振外殼的表面質量對晶振的性能有較大的影響。針對工業現場中晶振外殼撓曲缺陷的特點，我們可以檢測晶振外殼內側邊緣間的距離，如果某連續的一段檢測值超出合格范圍，就判定該零件不符合要求，即存在撓曲缺陷。泰河電子產品一律符合晶振外殼凸緣內側邊緣平行，使之產品性能占有很大的競爭優勢。
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